AET 介電常數測試儀 陶瓷粉體液體DkDf分析Microwave Dielectrometer

AET 介電常數測試儀 陶瓷粉體液體DkDf分析Microwave Dielectrometer

?? 一、產品概述與應用背景

該裝置名為Microwave Dielectrometer，專為無線及高速數字設備的電氣設計而開發。它面向工程師和材料開發商，旨在讓任何人都能輕松實現高精度的介電率測量。系統針對不同的測量對象和頻率需求，提供了多種測量方式。

?? 二、三種主要測量模式對比

AET提供三種核心測量模式，分別針對不同形態的材料：

1. 空洞共振器 TM模式（薄膜/板材專用）

• 適用對象：PCB基板、薄膜、樹脂、玻璃及陶瓷等。

• 特點：基于JIS C2565標準，利用圓柱空洞中心軸的電場變化，適合測量PTFE或高純度陶瓷等低介電損耗材料的tanδ。

• 參數：頻率1GHz~10GHz，Dk范圍1~30，Df范圍0.1~0.0001，精度Dk±1%。

• 樣品要求：細長條狀（寬3mm，厚0.05-1mm，長>80mm）。

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2. 空洞共振器 TE模式（5G高頻專用）

• 適用對象：5G通信材料、高速信號傳輸柔性電路板。

• 特點：專門針對厚度0.3mm以下的薄膜，頻率可達40GHz，固定間隙設計保證了測量穩定性。

• 參數：頻率10GHz~40GHz，Dk范圍1~5，Df范圍0.01~0.0001。

• 標準：符合JIS R1641及IPC-TM650 2.5.5.13。

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3. 同軸共振器（非破壞性測量）

• 適用對象：手機外殼、連接器模塑料等成品部件。

• 特點：利用開口部的隱逝波（近場）進行非破壞性測量，無需樣品加工。

• 參數：單個共振器可測5個頻點（覆蓋0.8GHz至18.4GHz），Dk范圍1~15。

• 技術背景：與東京大學前田研究室合作開發，專的利的號第3691812號。

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??? 三、特殊材料測量方案

• 粉體/液體：使用石英管填充樣品，通過真密度計算填充率來測定介電率；也可用于低極性溶劑的精密測量。

• 電纜材料：專用共振器設計，可直接對發泡PTFE等電線絕緣材料進行高精度測量。

• 超低損耗陶瓷：采用介質共振器，通過夾在導體板間的陶瓷圓柱共振，適合Df在0.001以下的材料。

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?? 四、系統構成與服務

• 硬件配置：由共振器、網絡分析儀（支持Keysight, Anritsu, Rohde & Schwarz等品牌）及控制PC組成。

• 推薦設備：緊湊型USB矢量網絡分析儀MS46122B（頻率選項覆蓋1MHz至43.5GHz）。

• 軟件操作：配備專用軟件，通過測量向導界面實現簡單操作。

• 服務支持：AET提供基于豐富經驗的介電率測量服務，可根據客戶需求選擇最佳測量方法。

該測量系統通過模塊化設計覆蓋了從粉體到成品外殼的廣泛材料形態，并結合5G高頻測試需求，為材料研發與質量控制提供了全面的解決方案。